電阻抗斷層成像(Electrical Impedance Tomography,EIT)重構(gòu)算法的目的是通過電流激勵區(qū)域邊界上的電壓值重構(gòu)出區(qū)域內(nèi)部的電阻抗分布。重構(gòu)算法一般分為兩種,一種是重構(gòu)出電阻抗絕對值的靜態(tài)算法,一種是重構(gòu)出電阻抗相對變化值的動態(tài)算法。由于測量數(shù)、邊界形狀等一系列實際條件的限制,重構(gòu)圖像只能給出一個真實電阻抗的估計。
1.正問題生物體的電磁場規(guī)律都可以用麥克斯韋(Maxwell)方程組表示:
其中, 為矢量微分算子(泊松算子),E為電場強(qiáng)度,D為電感應(yīng)強(qiáng)度,B為磁感應(yīng)強(qiáng)度,H為磁場強(qiáng)度,J為傳導(dǎo)電流密度。電、磁場中的場量E、B與D、H之間的關(guān)系由媒質(zhì)的特性決定,在各向同性的媒質(zhì)中,它們有如下關(guān)系:
其中,ε為復(fù)介電常數(shù);μ為導(dǎo)磁率;γ為電導(dǎo)率。在我們所觀察的電流場中,沒有孤立電荷存在,因而電荷密度為0,在較低頻率下,可以忽略介電常數(shù)的影響,又因成像目標(biāo)內(nèi)部無自由電荷,從而得到以下方程(拉普拉斯方程):
其中,σ為純電導(dǎo)率,對應(yīng)的邊界條件為:
在進(jìn)行EIT正問題分析時,可以將區(qū)域Ω分為許多離散的單元,每個小單元內(nèi)有一個均勻電阻抗的分布,可以得到離散域的一個線性化的等式,以矩陣的形式寫為:
其中,是測量電壓變化值矢量,是離散電阻抗變化矢量,S是敏感系數(shù)矩陣,其中的系數(shù)可以表示為:
其中i代表第i個驅(qū)動測量對,j代表第j個單元,積分則是對單元容積的積分。
2.逆問題建立EIT正問題后,可以將EIT圖像描述看成一個逆問題的求解,即已知激勵電流和邊界電壓求解內(nèi)部電阻抗變化。我們就可以通過對敏感矩陣進(jìn)行求逆來獲得電阻抗變化的分布,因此有:
給定邊界測量值,我們可以計算擾動的電阻抗圖像。這個結(jié)果對任何維數(shù)和電極安排都是有效的,但是電極的位置和電極對的驅(qū)動測量方式都會影響到敏感矩陣的形式以及矩陣逆的穩(wěn)定性,進(jìn)一步影響圖像的重構(gòu)質(zhì)量。
3.逆問題正則化針對線性離散正問題,我們假設(shè)不含噪聲的理想狀態(tài)下:
其中V為測量值向量,大小為M,為未知的模型參數(shù)向量,大小為N,S為敏感矩陣,大小為(M×N)。在EIT的研究中,ν指邊界電壓測量值的變化量,為內(nèi)部電阻抗的變化量,S其為敏感矩陣,其逆問題可表示為:
其中為S的逆,在大多數(shù)情況下,測量值通常只能在連續(xù)域的幾個獨立點上進(jìn)行測量獲得,而模型參數(shù)理論上講在域內(nèi)有無窮多個,因此可以認(rèn)為M